- Microscopio de antimateria
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Microscopio de antimateria
El microscopio de escaneo de positrones (SPM) pronto podrá estar disponible como una herramienta de gran alcance para probar muchos materiales diferentes. Werner Triftshäuser y sus colegas en la Universidad Militar de Munich, Alemania, pensaron que los positrones pueden dar imágenes de alta calidad de los defectos en las superficies de semiconductores.
El SPM utiliza positrones, la antipartícula de los electrones, a la hora de detectar los defectos en semiconductores.
Un ejemplo son aquellos positrones que son atraídos a las regiones de carga negativa. La forma más común de defectos de semiconductores se conoce como una "vacante". Cuando un positrón se reúne un electrón, los dos tratan de aniquilarse entre si, liberando su energía como fotones de rayos gamma. La radiación resultante revela la ubicación precisa de una vacante. Los positrones, que proceden de una fuente radiactiva de sodio, pasan a través de una serie de campos eléctricos que los homogenizan con pulsos cortos. Luego se transmiten a través de otra serie de campos que aceleran el pulso de una determinada energía antes de centrarse en un punto de 2 micrones en la superficie de silicio.
Enlaces externos
- Tesis que describe el desarrollo del primer microscopio de escaneo de positrones (SPM) por los físicos en la Universidad Militar, Munich.
- Physics News Update stories that describe research from APS journals
Categoría: Microscopios
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